原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜，能够以纳米级别的精度研究材料表面结构和性质。
原子力显微镜* 其核心功能是通过一个极其尖锐的探针（探针尖端的曲率半径可达纳米级）来“触摸”或“感知”样品表面。
与光学显微镜依赖光波、电子显微镜依赖电子束不同，AFM依赖的是探针尖端的原子与样品表面原子之间极其微弱的相互作用力（如范德华力、静电力、磁力、毛细力等）来获取信息。
通过精确控制探针在样品表面的逐点扫描，AFM不仅能够以纳米甚至原子级别的分辨率生成样品表面的三维形貌图像，还能同步测量和表征样品的多种物理化学性质，如硬度、弹性、摩擦力、粘附力、电学、磁学及热学特性等。
这种多功能性使其适用于从硬质材料到柔软生物样本的各种研究对象，并且可以在大气、液体、真空等多种环境下工作。
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